Maximieren Sie Ihr Analysepotenzial

Photovoltaik

GDOES

Beschreibung

Dünnschichtsolarzellen sind eine vielversprechende Technologie im Bereich der Photovoltaik. Sie nutzen eine Vielzahl von Halbleiterwerkstoffen wie amorphes Silizium, Cadmiumtellurid, CIGS (Kupfer, Indium, Gallium, Schwefel/Selen) und CZTS (Kupfer, Zink, Zinn, Schwefel/Selen). Diese Materialien werden auf unterschiedliche Substrate aufgebracht, die fest oder flexibel, metallisch oder nicht-leitend sein können. Die Auswahl der spezifischen Materialien und Substrate ermöglicht maßgeschneiderte Konstruktionen mit gewünschten Eigenschaften für verschiedenste Anwendungen. In Labortests haben Dünnschichtsolarzellen bereits Wirkungsgrade von etwa 20 % erreicht. Jedoch stellt die Herstellung effizienter Dünnschichtsolarzellen für großflächige Anwendungen eine komplexe Herausforderung dar. Neben der kontinuierlichen Verbesserung der Absorptionsschicht liegt der Fokus der Hersteller von Dünnschichtsolarzellen auf der Optimierung von Produktionsanlagen, Verfahren und Abläufen. Durch diese fortlaufenden Bemühungen wird angestrebt, die Effizienz, Zuverlässigkeit und Wirtschaftlichkeit dieser Technologie weiter zu steigern. Die Glimmentladungsspektrometer von Spectruma® sind die idealen Messgeräte sowohl für schnelle produktionsbegleitende Kontrollen als auch für wissenschaftliche Forschung.

Höchste Genauigkeit

Messung der Dicke von ultradünnen Schichten/ Dünnschichten und Bestimmung des Gewichts von Schichten.

Oberflächen­analyse

Messung der chemischen Zusammensetzung von Schichten, Substraten und komplexen Bulkmaterialien.

Unsere Geräte analysieren präzise und zuverlässig die Homogenität, die Zusammensetzung, sowie die Reinheit der einzelnen Phasen, um sicherzustellen, dass Ihre Komponenten die höchsten Qualitätsstandards erfüllen.

  1. Messung mit hoher Genauigkeit für Schichten von wenigen Nanometern bis hin zu mehreren hundert Mikrometern

  2. Äußerst empfindliche Messungen durch Nachweisgrenzen im Bereich von 0,1 bis 10 ppm

  3. Bestimmung aller Elemente des Periodensystems, einschließlich H, Li, Na, K, C, N, P, S und O

  4. Relative Tiefenauflösung beträgt 5-10 % der absolut erreichten Tiefe in allen oberflächennahen Schichten

  5. Kontrolle über alle Prozessschritte zur Sicherstellung einer homogenen Zusammensetzung und Reinheit der Phasen
  6. Benutzerdefinierte Tabellen für verschiedene Berechnungen, einschließlich Peakpositionen, Konzentrationen und GGI/CGI-Werten

Die GDA-Serie

Unendliche Möglichkeiten –
Wir bringen Licht in jede Schicht.